透射电镜两种工作模式区别

纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。

透射电镜是一种研究材料结构与分子排列的常见工具，具有非接触式、高分辨率、高灵敏度等优点。透射电镜可以通过两种工作模式进行观察：传统工作模式和反向工作模式。这两种工作模式在透射电镜的性能和应用上存在很大差别。本文将详细介绍透射电镜这两种工作模式之间的区别。

一、传统工作模式

传统工作模式是指在常规条件下，透射电镜使用可见光或 near-infrared（近红外）光源进行观察。在此模式下，样品的表面被置于电场中，电子在通过样品时被光子激发，产生电子-光子碰撞。这些碰撞产生的二次电子经过一系列加速过程，最终进入检测系统。检测系统通过测量电子的动能，可以得到样品的相关信息。

传统工作模式的主要优点是分辨率高、灵敏度高，适用于许多材料的研究。 这种工作模式也存在一些缺点，如需要使用高能电子，对样品表面制备要求较高，不适合观察某些非极性样品等。

二、反向工作模式

反向工作模式是指将样品置于磁场中，使其处于高能电子束中。在这种模式下，高能电子束撞击样品表面，将电子从样品表面逸出。逸出的电子经过一系列加速过程后，最终进入检测系统。检测系统通过测量电子的动能，可以得到样品的相关信息。

反向工作模式的主要优点是不需要使用高能电子，对样品表面制备要求较低，适合观察某些非极性样品。这种工作模式下的分辨率相对较低，灵敏度也有一定局限性。

透射电镜有两种工作模式：传统工作模式和反向工作模式。这两种工作模式各有优缺点，应根据具体应用和研究要求选择合适的工作模式。在实际应用中，可以通过结合两种工作模式的特点，实现最佳的观察效果。

专业提供fib微纳加工、二开、维修、全国可上门提供测试服务，成功率高！